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簡介

飛納高分辨率專業版 Phenom Pro 是飛納電鏡系列中最先進的産品,第五代 Phenom Pro 放大倍數提升為 150,000 倍,分辨率優于 8 nm,30 秒快速得到表面細節豐富的高質量圖像,是目前世界上分辨率最高的台式掃描電鏡,可用于測量亞微米或納米尺度的樣品;飛納高分辨率專業版 Phenom Pro 繼承了飛納電鏡系列高分辨率、15 秒快速抽真空、不噴金觀看絕緣體、全自動操作、2-3 年更換燈絲及防震設計等優點,點擊電鏡特色了解更多。

飛納高分辨率專業版 Phenom Pro 可選配豐富的拓展功能選件,如 3D 粗糙度重建(3D Roughness Reconstruction)、纖維統計分析測量系統(FiberMetric)、孔徑統計分析測量系統(PoreMetric)、顆粒統計分析測量系統(ParticleMetric)、超大視野拼圖(Auto Image Mapping)、遠程操作等。軟件可以自動采集數據、處理圖片。比如,纖維統計測量系統可以自動識别、測量纖維樣品,而大視野拼圖 則自動采集生成高分辨、大視野的樣品全景照片,等等…

除此之外,還有各種各樣的樣品杯可供選擇,這些樣品杯使得樣品的裝載更加便利。無論是對于長軸狀樣品,還是生物材料,或者其它種類的材料,總有一款合适的樣品杯可以提供完美的解決方案。

下載規格表

規格參數

 

Phenom Pro

Phenom ProX

Phenom XL

光學放大

20 - 135 X

20 - 135 X

3 - 16 X

電子光學放大

80 - 150,000 X

80 - 150,000 X

80 - 100,000 X

分辨率

優于 8 nm

優于 8 nm

優于 14 nm

數字放大

Max. 12 X

Max. 12 X

Max. 12 X

光學導航相機

彩色

彩色

彩色

加速電壓

5 kV - 15 kV  連續可調

5 kV - 15 kV  連續可調

5 kV - 20 kV  連續可調

真空模式

高分辨率模式

降低荷電效應模式

高分辨率模式

降低荷電效應模式

高分辨率模式

降低荷電效應模式

高真空模式

探測器

背散射電子探測器

二次電子探測器 (選配)

背散射電子探測器

二次電子探測器 (選配)

背散射電子探測器

二次電子探測器 (選配)

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展示

案例分析

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